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Semicon - test Socket BiTS (3825-TSU)

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Semicon - Bits de prise de test (3825-tsu)
  

Overview of Semicon - Test Socket BiTS (3825-TSU)

— Les douilles de test sont utilisées pour tester les circuits intégrés haute fréquence sans les souder sur un circuit imprimé. Le CI est placé dans une prise de test qui est soudée sur une carte PCB qui est placée dans une configuration de test. Un facteur important à prendre en compte lors de la sélection d'une douille de test est sa durabilité ou sa fiabilité. Il s'agit du nombre d'insertions de périphérique/CI qu'une prise de test peut réaliser avant de devoir être remplacée. Idéalement, une prise ne devrait nécessiter aucune réparation et fonctionner de manière fiable tout au long de son cycle de vie. Les matériaux plastiques techniques avancés pour l'assemblage, le test et l'emballage sont plus efficaces lorsqu'ils sont correctement adaptés à l'environnement du processus. Adaptés à ces applications, nous proposons des matériaux qui maintiennent des tolérances et une résistance précises sur une large plage de températures, gèrent efficacement les charges électrostatiques et s'usinent facilement. Des produits sont désormais disponibles pour gérer une taille de dispositif réduite, un nombre de broches accru et une taille de pas plus petite et pour fournir des performances électriques conductrices, résistives ou hautement résistives sur une large plage de températures. Les douilles de test de rodage (alias BiTS), les manipulateurs et les matériaux de nidification de Professional Plastics comprennent ; Torlon® : 5530 & 4203, Semitron® : 410, 420, 480, 490, 500HR, 520HR, MDS100 & MP370, CeramaPEEK® :, Ultem® : 1000 & 2300, et plus.

Voir: Guide de conception technique des douilles et des manipulateurs de test de plastiques professionnels
Voir : Quadrant EPP Back-End IC Testing Materials

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