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반도체 - 테​​스트 소켓 비트 (3825-TSU)

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반도체 - 테스트 소켓 비트(3825-tsu)
  

Overview of Semicon - Test Socket BiTS (3825-TSU)

— 테스트 소켓은 PCB에 납땜하지 않고 고주파수 IC를 테스트하는 데 사용됩니다. IC는 테스트 설정 내에 배치된 PCB 보드에 납땜된 테스트 소켓에 배치됩니다. 테스트 소켓을 선택할 때 고려해야 할 중요한 요소는 내구성 또는 신뢰성입니다. 이것은 교체가 필요하기 전에 테스트 소켓이 달성할 수 있는 장치/IC 삽입 수입니다. 이상적으로 소켓은 수리가 필요하지 않으며 전체 수명 주기 동안 안정적으로 작동해야 합니다. 조립, 테스트 및 포장을 위한 고급 엔지니어링 플라스틱 재료는 공정 환경에 적절하게 일치될 때 가장 효과적입니다. 이러한 응용 분야에 맞게 조정된 당사는 광범위한 온도 범위에서 정확한 공차와 강도를 유지하고 정전기 전하를 효과적으로 관리하며 쉽게 기계를 가공할 수 있는 재료를 제공합니다. 이제 디바이스 크기 감소, 핀 수 증가, 피치 크기 감소를 처리하고 광범위한 온도 범위에서 전도성, 저항성 또는 고저항 전기 성능을 제공하는 제품을 사용할 수 있습니다. 번인 테스트 소켓(BiTS라고도 함), Professional Plastics의 핸들러 및 네스트 재료에는 다음이 포함됩니다. Torlon®: 5530 및 4203, Semitron®: 410, 420, 480, 490, 500HR, 520HR, MDS100 및 MP370, CeramaPEEK®:, Ultem®: 1000 및 2300 등.

참조: 전문 플라스틱 테스트 소켓 및 핸들러 기술 설계 가이드
참조: Quadrant EPP 백엔드 IC 테스트 자료

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