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セミコン試験装置(ATE)(3825-TE)

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セミコン試験装置(ate)(3825-te)
  

Overview of Semicon Test Equipment (ATE) (3825-TE)

— 半導体デバイスをテストするための半導体 ATE (Automated Test Equipment) は、単純なコンポーネント (抵抗、コンデンサ、インダクタ) から集積回路 (IC)、プリント回路基板 (PCB)、および複雑で完全に組み立てられた電子システム。 ATE システムは、特定のデバイスが動作することを検証するために必要なテスト時間を短縮したり、部品が最終的な消費者向け製品に使用される前にその障害を迅速に発見したりするように設計されています。製造コストを削減し、歩留まりを向上させるには、製造後に半導体デバイスをテストして、欠陥のあるデバイスが最終的に消費者の手に渡るのを防ぐ必要があります。 Semiconductor ATE アーキテクチャは、1 つまたは複数のソースおよびキャプチャ機器を同期するマスター コントローラ (通常はコンピュータ) で構成されます。歴史的に、カスタム設計のコントローラーまたはリレーは、ATE システムで使用されていました。被試験デバイス (DUT) は、ハンドラーまたはプローバーと呼ばれる別のロボット マシンによって、ATE のリソースを DUT に適合させるカスタマイズされたインターフェイス テスト アダプター (ITA) またはフィクスチャを介して ATE に物理的に接続されます。

追加の技術情報については、以下を参照してください。 Quadrant EPP バックエンド IC テスト資料

Semicon Test Equipment (ATE) (3825-TE) ... our Products

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