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セミコン - テストソケットビット(3825-TSU)

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セミコン - テストソケットビット (3825-tsu)
  

Overview of Semicon - Test Socket BiTS (3825-TSU)

— テスト ソケットは、PCB にはんだ付けせずに高周波 IC をテストするために使用されます。 IC は、テスト セットアップ内に配置された PCB ボードにはんだ付けされたテスト ソケットに配置されます。テスト ソケットを選択する際に考慮すべき重要な要素は、その耐久性または信頼性です。これは、交換が必要になる前にテスト ソケットが達成できるデバイス/IC の挿入数です。理想的には、ソケットは修理を必要とせず、ライフ サイクル全体で確実に動作する必要があります。アセンブリ、テスト、およびパッケージング用の高度なエンジニアリング プラスチック材料は、プロセス環境に適切に適合する場合に最も効果的です。これらの用途に合わせて調整された、幅広い温度範囲で正確な公差と強度を維持し、静電気を効果的に管理し、機械加工が容易な材料を提供します。デバイス サイズの縮小、ピン数の増加、およびピッチ サイズの縮小に対応し、広い温度範囲で導電性、抵抗性、または高抵抗性の電気的性能を発揮する製品が利用可能になりました。 Professional Plastics のバーンイン テスト ソケット (別名 BiTS)、ハンドラー、およびネストの材料には、以下が含まれます。 Torlon®: 5530 & 4203、Semitron®: 410、420、480、490、500HR、520HR、MDS100 & MP370、CeramaPEEK®:、Ultem®: 1000 & 2300 など。

参照: Professional Plastics Test Socket & Handler Technical Design Guide
参照: Quadrant EPP バックエンド IC テスト資料

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